Fehleranalyse - Spurenanalyse
Neben der Untersuchung von Materialbestandteilen liegt im Bereich der Fehleranalytik das Hauptaugenmerk auf der Oberflächenanalytik. Bereits geringste Verunreinigungen an der Oberfläche von Bauteilen können zu Beschichtung- bzw. Haftungsproblemen oder erhöhten Leitfähigkeiten führen.
Deshalb ist eine Spurenanalytik in diesen Bereichen von großer Bedeutung, wir bieten u. a. folgende Analysen an:
Partikuläre Verunreinigungen(Partikel, Fasern):
- Zählung und Vermessung von metallischen und nichtmetallischen Partikeln z. B. in Getriebeteilen
- Bestimmung der Elementzusammensetzung von Partikeln mittels REM-EDX und IR-Mikroskopie
- Klassifizierung von Fasern mittels IR-Mikroskopie (z. B. Baumwollfasern, Wolle)
Organische Verunreinigungen (Flecken, Filme, Trockenränder, Rückstände):
- GC-MS-Untersuchung dünner Filme nach Herunterwaschen und Aufkonzentrierung
- Identifizierung schwer- bis mittelflüchtiger organischer Flecken auf Bauteilen mittels IR-Spektroskopie
- Bestimmung längerkettiger polarer Substanzen mittels LC-MS/MS
Anorganische Verunreinigungen (Flecke, Filme, Trockenränder, Rückstände, Materialien):
- Bestimmung der Elementzusammensetzung von Rückständen mittels REM-EDX (z. B. Calcium, Sauerstoff und Schwefel bei Gips)
- Bestimmung der ionischen Oberflächenbelastung von Leiterplatten oder Bauteilen mittels Ionenchromatographie und ICP-OES
- Halogenbestimmung (Fluorid, Chlorid, Bromid, Iodid) auf Aluminiumdruckgussteilen mittel Ionenchromatographie
- Halogenbestimmung in Kunststoffmaterialien nach Schöniger-Verbrennung
- Chloridbestimmung in Ölen und Fetten mittels Elutionsverfahren (auf Wunsch auch weitere Ionen)
Kontakt
Telefon: 09132/75034-0
Christian Schad
Geschäftsführer
Dr. Thomas Fürst
Geschäftsführer
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Dr. Thomas Fürst
Geschäftsführer
Christina Korbacher
stellv. Leitung Industrie